授课班级 ELEC6437P.01

微纳器件测试基础

Fundamentals of micro and nano device testing

2026年春季学期高新区 34 / 40

授课班级

班级代码: ELEC6437P.01
学期: 2026年春季学期
学分: 3
学时: 80 / 93
考试方式: 大作业（论文、报告、项目或作品等）
备注: 器件及芯片测试是集成电路生产制造中的重要环节，也是该领域科学研究与技术开发的必要基础。目前非仪器专业学生对测试基础理论缺乏理解，也无测试设备的使用技能，不利于未来的工作或深造。《微纳器件测试基础》这程可以填补这一空白，为同学们讲授测试基础理论，锻炼同学们的设备使用技能，深化同学们对集成电路行业的理解，为本科毕设和研究深造储备必要知识技能，为未来从事集成电路领域相关工作打下坚实基础。

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